半導體在室溫下直接檢測 X 射線和 γ 射線等高能輻射是一項具有挑戰(zhàn)性的命題，需要非常純凈且近乎完美的晶體。金屬鹵化物鈣鈦礦、缺陷耐受半導體的出現(xiàn)，在經(jīng)歷了近20年的中斷后，正在重新燃起對該領(lǐng)域新材料的希望。金屬鹵化物鈣鈦礦結(jié)合了卓越的光電特性、通用化學和簡單合成，對開發(fā)用于檢測硬輻射的新型半導體的傳統(tǒng)方法提出了挑戰(zhàn)。 鑒于此，2021年12月23日蘇州大學Yihui He&美國西北大學Mercouri G. Kanatzidis團隊于Nature Photonics刊發(fā)鈣鈦礦射線檢測研究進展的綜述。通過針對用于輻射檢測的下一代半導體，討論高性能、低成本探測器的相關(guān)物理特性、有前途的材料、制造技術(shù)和器件架構(gòu)。還提出了關(guān)于此類進步對未來醫(yī)學成像應用的影響的觀點。